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<p>L'invention concerne des procédés de surveillance et de contrôle d'un processus de fabrication.Dans ces procédés, la valeur d'une variable de processus est mesurée et traitée. Une valeur basée sur une mesure est normalisée en utilisant un paramètre de normalisation associé à la variable de processus. Des cas où la valeur normalisée ne répond pas à un critère d'acceptation sont identifiés de telle sorte que, par exemple, des actions de correction peuvent être exécutées ou bien la qualité du produit fabriqué peut être diagnostiquée.L'invention est applicable dans le domaine des processus de fabrication.</p> |
