发明名称 线上微影及蚀刻系统
摘要 本发明能提供一处理晶圆之方法,其使用能包括位置相依性产生程序、位置相依性评估程序及位置相依性传输次序的位置相依性处理次序。位置相依性产生程序能用位置相依性处理元件来执行;位置相依性评估程序能用位置相依性评估原件来执行;及位置相依性传输次序能用位置相依性传输次系统来执行。位置相依性资料能储存在位置相依性程式库及/或资料库中。
申请公布号 TW200903686 申请公布日期 2009.01.16
申请号 TW097111696 申请日期 2008.03.31
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 马克 温克乐;汤玛斯 温特尔
分类号 H01L21/66(2006.01);G06F19/00(2006.01);H01L21/677(2006.01) 主分类号 H01L21/66(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本