半导体器件和数据处理系统

摘要

降低了能够访问外部存储器的电路的测试设计成本。包括内置自测电路，用于响应于对能够连接到存储器接口的外部存储器的访问请求，独立于用于执行存储器控制的存储器控制器，测试外部存储器，以及TAP控制器用于控制内置自测电路并参考测试结果。采用多路复用器来根据通过TAP控制器从外部输入的控制信息可切换地选择存储器控制器或内置自测电路作为用于连接到存储器接口的电路。内置自测电路根据通过TAP控制器输入的指令可编程地生成和输出用于存储器测试的图案，并将从外部存储器读取的数据与预期值进行比较。

主权项

1.一种半导体器件，包括：存储器接口，能够连接到外部存储器；处理单元，用于执行数据处理，包括基于所述外部存储器的数据的数据处理；内置自测电路，用于生成用于测试所述外部存储器的测试信号；多路复用器，用于可切换地将所述处理单元或所述内置自测电路连接到所述存储器接口；以及端子，向其输入用于指示所述多路复用器在所述处理单元和所述内置自测电路之间切换的信号。