| 摘要 |
一种记忆体ＩＣ检测分类机(二)，包含设于机台前端之供料匣及至少一个收料匣，设于机台后端之至少一个测试装置、定位装置及顶压装置，以及设于供、收料匣及测试装置间之移料装置；该供、收料匣系分别用以承置待／完测之记忆体ＩＣ，各测试装置则设有具复数个测试套座之测试电路板，移料装置系可于供料匣移载复数个记忆体ＩＣ至定位装置进行定位，并于完成定位后将记忆体ＩＣ移载至测试装置之各测试套座上方，于顶压装置下压开启测试套座时，移料装置即可将记忆体ＩＣ置入于之各测试套座内，于顶压装置上升关闭测试套座时，记忆体ＩＣ即可固定于测试套座内以进行测试作业；藉此，即可同时移载及测试复数个记忆体ＩＣ，以有效缩短待机时间，而大幅增加记忆体ＩＣ之检测产能，达到更加提升使用效率及产能之使用效益。 |
