电致发光显示装置之缺陷检查方法及缺陷检查装置以及利用该等之电致发光显示装置之制造方法

摘要

本发明之目的系在将EL显示装置之显示缺陷根据其原因进行高精度的检测。本发明之电致发光显示装置之缺陷检查方法，系使用以控制供给至EL元件之驱动电流之元件驱动电晶体(Tr2)在其线性区域动作，根据使EL元件处在发光位准(level)时之发光亮度或阴极电流，检测因EL元件之短路引起的灭点缺陷。使元件驱动电晶体(Tr2)在其饱和区域动作，从使EL元件处在发光位准时之阴极电流，可检测因元件驱动电晶体(Tr2)之特性参差不齐引起的暗点缺陷，而在从发光亮度检测出异常显示像素时，求出异常显示像素中在灭点检查时未被判定为灭点缺陷的像素，将该像素检测为因元件驱动电晶体(Tr2)之特性参差不齐引起的暗点缺陷。