发明名称 绝缘栅型半导体装置
摘要 本发明涉及一种绝缘栅型半导体装置。在将检测主动作部的动作的传感部集成于同一芯片的MOSFET中,传感部的电流分布不均匀区域的面积比电流分布均匀的区域面积大,故存在传感部中接通阻抗增加,而得不到与元件比对应的电流比的问题。本发明中,在传感部的外周设置分离区域。设置分离区域的深度,该深度可抑制在传感部的周端部产生的电流分布不均匀区域的扩散,由此,可在传感部中抑制电流分布不均匀区域带来的影响。由于可使整个传感部的电流分布更加均匀,故可以使传感部的接通阻抗接近设计值。由此,可得到与元件比对应的、与设计值相同的电流比,提高电流检测的精度。
申请公布号 CN101271899A 申请公布日期 2008.09.24
申请号 CN200810085496.1 申请日期 2008.03.19
申请人 三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社 发明人 吉村充弘
分类号 H01L27/088(2006.01) 主分类号 H01L27/088(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1.一种绝缘栅型半导体装置,其特征在于,具有:一导电型半导体基板,设置在该半导体基板之上的一导电型半导体层,设置在该半导体层表面上的第一动作部,设置在所述半导体层表面,面积比所述第一动作部小的第二动作部,设置在所述第一动作部上的反导电型第一沟道区域和第一晶体管,设置在所述第二动作部上的反导电型第二沟道区域和第二晶体管,设置在所述第二动作部的周围的分离区域。
地址 日本大阪府