发明名称 光检测装置
摘要 本发明的目的在于提供一种使光检测的动态范围、S/N比以及速度任何一者都能够得到提高的光检测装置。光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)发生对应于入射光强度的量的电荷,并存储在结电容部中。电荷量电平判断电路(10<SUB>m,n</SUB>)判断在光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)中发生并蓄积在结电容部中的电荷量的电平。积分电路(20<SUB>m</SUB>)根据该电荷量电平判断结果,设定积分电容部(21)的电容值,将从光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)经过开关(SW1<SUB>m,n</SUB>)输入的电荷蓄积在积分电容部(21)中,输出对应于该蓄积电荷量的电压值(V<SUB>20</SUB>)。输入到积分电路(20<SUB>m</SUB>)的放大器A的非反相输入端子中的电压值(V<SUB>inp</SUB>)被设定得积分电路(20<SUB>m</SUB>)的积分电容部(21)蓄积电荷的第二期间的电压值比光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)的结电容部蓄积电荷的第一期间的大。
申请公布号 CN100407444C 申请公布日期 2008.07.30
申请号 CN200380107783.3 申请日期 2003.12.25
申请人 浜松光子学株式会社 发明人 铃木保博;水野诚一郎
分类号 H01L31/10(2006.01);G01J1/44(2006.01) 主分类号 H01L31/10(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 龙淳
主权项 1.一种光检测装置,其特征在于,包括:反偏压施加在阳极端子和阴极端子之间,发生对应于入射光强度的量的电荷,并蓄积在结电容部中的光电二极管;输入端通过开关与所述光电二极管连接,将蓄积在所述光电二极管的所述结电容部中的电荷输入到所述输入端中,将该电荷蓄积在积分电容部中,输出对应于该蓄积的电荷量的电压值的积分电路;以及使所述积分电路的所述积分电容部蓄积电荷的第二期间内施加在所述光电二极管上的反偏压的值,比所述光电二极管的所述结电容部蓄积电荷的第一期间内施加在所述光电二极管上的反偏压的值大的反偏压变更单元。
地址 日本国静冈县