发明名称 PROCEDE ET DISPOSITIF DE TOMOGRAPHIE PAR IMPEDANCE ELECTRIQUE.
摘要 <p>Procédé de tomographie par impédance électrique comprenant :- une étape de mesure électrique au cours de laquelle on impose des conditions électriques prédéterminées à la surface (3) d'un milieu à imager, tout générant une perturbation mécanique en des points prédéfinis du milieu pour modifier localement l'impédance du milieu, et on mesure un paramètre électrique en plusieurs points (7) à la surface du milieu,- et une étape de calcul au cours de laquelle on détermine l'impédance électrique en plusieurs points dans le volume intérieur (2) du milieu, en prenant en compte les mesures effectuées pendant la perturbation, en fonction d'une loi de modification de l'impédance électrique par cette perturbation.</p>
申请公布号 FR2906612(A1) 申请公布日期 2008.04.04
申请号 FR20060008538 申请日期 2006.09.28
申请人 CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (C.N.R.S.) ETABLISSEMENT PUBLIC A CARACTERE SCIENTIFIQUE ET TECHNOLOGIQUE 发明人 AMMARI HABIB;BONNETIER ERIC;CAPDEBOSCQ YVES;TANTER MICKAEL;FINK MATHIAS
分类号 G01N27/02;A61B5/053;A61B8/00;G01N33/483;G01V1/28 主分类号 G01N27/02
代理机构 代理人
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