发明名称 |
Verfahren zum Reduzieren der Kontamination durch Vorsehen einer zu entfernenden Polymerschutzschicht während der Bearbeitung von Mikrostrukturen |
摘要 |
Durch Vorsehen einer Schutzschicht in einer Fertigungszwischenphase wird ein erhöhter Oberflächenschutz im Hinblick auf Partikelkontamination und Oberflächenkorrosion erreicht. In einigen anschaulichen Ausführungsformen wird die Schutzschicht während eines elektrischen Testverfahrens verwendet, wobei entsprechende Kontaktbereiche durch die Schutzschicht hindurch kontaktiert werden, wodurch die Teilchenkontamination während eines entsprechenden Messprozesses deutlich verringert wird.
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申请公布号 |
DE102006035644(A1) |
申请公布日期 |
2008.02.14 |
申请号 |
DE200610035644 |
申请日期 |
2006.07.31 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC. |
发明人 |
RICHTER, RALF;FEUSTEL, FRANK;WERNER, THOMAS;FROHBERG, KAI |
分类号 |
H01L21/67;H01L21/30 |
主分类号 |
H01L21/67 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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