发明名称 | 粒径检测装置 | ||
摘要 | 一种粒径检测装置包含一可容纳一待测样品之样品槽、一设置于该样品槽之上端的连接器、一设置于该连接器上之雷射产生器以及复数条用以接收一散射光之接收光纤。该雷射产生器可向该待测样品发射一检测光,其经由该待测样品散射而产生该散射光。该样品槽可包含一壳体、复数个设置于该壳体中之横向开孔以及复数个设置于该壳体中且与该横向开孔相通连之纵向开孔。该复数条接收光纤可设置于该复数个纵向开孔之中,而该复数个横向开孔可容纳复数个反射镜,用以将该散射光反射至该接收光纤。该接收光纤可经由一光纤连接器而连接于一光耦合元件。 | ||
申请公布号 | TW200806971 | 申请公布日期 | 2008.02.01 |
申请号 | TW095126349 | 申请日期 | 2006.07.19 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 潘善鹏;王振宇;陈彦良;翁汉甫 |
分类号 | G01N15/02(2006.01);G01N21/47(2006.01) | 主分类号 | G01N15/02(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 冯博生 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹县竹东镇中兴路4段195号 |