发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要 一种半导体元件的制造方法。是先于一基底上依序形成闸介电层、多晶矽层与一图案化顶盖层,再以图案化顶盖层为罩幕,图案他多晶矽层以形成一多晶矽闸极。接着,于多晶矽闸极两侧的基底中形成数个LDD区并使LDD区之间的基底成为一通道区。然后,于多晶矽闸极的侧壁上形成间隙壁,再于间隙壁的外侧基底中形成一源极与汲极。之后陆续去除顶盖层及间隙壁。尔后再进行金属矽化制程,将多晶矽闸极完全转变为矽化金属闸极,同时于源极与汲极表面形成一矽化金属层。
申请公布号 TW200802619 申请公布日期 2008.01.01
申请号 TW095123489 申请日期 2006.06.29
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 林建廷;陈亮玮;许哲华;马光华
分类号 H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号