发明名称 semiconductor test socket pin in last semiconductor process
摘要
申请公布号 KR100787087(B1) 申请公布日期 2007.12.24
申请号 KR20060045167 申请日期 2006.05.19
申请人 发明人
分类号 H01L21/66;H01L21/02 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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