| 发明名称 | 2DOS信号的最优检测 | ||
| 摘要 | 一种用于借助于检测器从光盘(22)的多个数据轨道(14)同时读取信息的方法和设备，用激光点(25)照射所述多个数据轨道，其中借助于伺服透镜(29)收集从这些激光点反射的光，进一步向检测器提供彼此分隔开的多个检测元件(28a，28b，28c，31a，42a，28bc，28cc，32a，32b，42ac，51a，52a，52b)，设置每个检测元件以检测(读取)从分配给每个元件的数据轨道反射的光，将至多两个检测元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)设置成分段检测器，用以向分配的轨道提供功率信号，并向伺服系统中沿所述轨道引导所述检测器的焦点误差控制提供输出信号，借助于第二检测元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)来仅仅读取每个轨道的功率信号，将所述第二检测元件的每一个设置为使其面积基本上小于所述第一检测元件之一的面积。 | ||
| 申请公布号 | CN101073113A | 申请公布日期 | 2007.11.14 |
| 申请号 | CN200580041832.7 | 申请日期 | 2005.11.25 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | A·M·范德利;C·T·H·F·利登鲍姆;T·W·图克 |
| 分类号 | G11B7/13(2006.01);G11B7/14(2006.01);G11B7/09(2006.01) | 主分类号 | G11B7/13(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 龚海军;刘红 |
| 主权项 | 1.一种供同时从光盘(22)读取多个数据轨道(14)所用的多元件检测器，其包括：伺服透镜(27，41)，其用于收集从激光点(25)反射的光，该激光点照射设置在光盘(22)上的所述多个数据轨道(14)，其特征在于，该多元件检测器具有：第一检测元件(28bc，28cc，32a，32b，42ac，52a，52b)，其是分段检测器，用于向分配轨道的激光点(25)反射的光提供功率信号并向伺服系统中沿着所述轨道(14)引导所述检测器的焦点误差控制提供输出信号，第二检测元件(28a，28b，28c，31a，42a，51a)，其仅仅读取每个轨道的功率信号，其中所述第二检测元件之一的面积基本上小于所述第一检测元件之一的面积。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||