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L'invention concerne un dispositif et un procédé pour la mesure sans contact d'au moins une surface courbe. Le dispositif comprend au moins une source de lumière pour générer de la lumière possédant un spectre continu et une surface émettrice de lumière associée à la source de lumière. Il dispose en outre d'une tête de mesure (10) avec un système de reproduction optique (22) à aberration chromatique pour reproduire la surface émettrice de lumière dans des plans focaux dépendants de la longueur d'onde, et d'un dispositif spectral optique permettant de saisir la répartition des intensités spectrales de la lumière qui est dirigée à travers le système optique (22) sur la surface à mesurer (26) et y est réfléchie. Le dispositif est de plus équipé d'une unité d'évaluation permettant d'associer à chaque longueur d'onde à laquelle la répartition des intensités saisie par le dispositif spectral optique présente un maximum local une distance entre le système optique (22) et la surface (26). La surface à mesurer (26) est plane dans une direction de l'espace (X). L'axe optique (24) du système optique (22) est perpendiculaire à la surface (26) dans cette direction de l'espace (X). Par ailleurs, la largeur du système optique (22) est réduite perpendiculairement à son axe optique (24) dans cette direction de l'espace (X).
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