摘要 |
<p>Ein Verfahren und eine Anordnung (1,) zur automatischen oder visuellen Erkennung von Materialfehlern, insbesondere Rissen (4) in einem Werkstück (2), wobei das Werkstück (2) mit einem Prüfmittel beaufschlagt wird, welches Farbpigmente enthält, die durch kurzwelliges Licht (10) anregbar sind, das Werkstück (2) anschließend mit kurzwelligem Licht einer Lichtquelle (6) bestrahlt, und das vom Werkstück (2) emittierte Licht durch das Auge eines Beobachters oder durch einen Detektor (14) erfasst und die Signale des Detektors (14) durch eine elektronische Auswerteinrichtung (20) zur Ermittlung der Materialfehler ausgewertet werden, zeichnen sich dadurch aus, dass der Lichtquelle (6) ein erster optischer Interferenzfilter (12) zugeordnet ist, der das von der Lichtquelle (6) ausgesandte Licht (10) vor dem Auftreffen auf das Werkstück (2) nach Art eines Bandpasses selektiert.</p> |