| 发明名称 | 粒子束流截面直径控制器件及其制备方法 | ||
| 摘要 | 一种粒子束流截面直径控制器件及其制备方法，属于材料科学领域。本发明粒子束流截面直径控制器件，为管状体、内径1－5nm、外径大于1mm、长度1－10mm。本发明还提供了粒子束流截面直径控制器件的制备方法，通过对商业空心石英玻璃棒进行加温、拉伸、冷却、外套空心石英玻璃棒和再加温、拉伸、冷却等程序，最后用钻石刀或激光刀切割，获得内径1－5nm、外径在1mm以上、长度1－10mm的纳米器件。本发明粒子束流截面直径控制器件，可实现在1－5nm级控制带电粒子或中子等束流的直径，提高对靶标处理的精准性。 | ||
| 申请公布号 | CN1988052A | 申请公布日期 | 2007.06.27 |
| 申请号 | CN200610147231.0 | 申请日期 | 2006.12.14 |
| 申请人 | 上海交通大学 | 发明人 | 王志民 |
| 分类号 | G21K1/02(2006.01) | 主分类号 | G21K1/02(2006.01) |
| 代理机构 | 上海交达专利事务所 | 代理人 | 王锡麟;张宗明 |
| 主权项 | 1、一种粒子束流截面直径控制器件，其特征在于，其形状为管状体，内径1-5nm、外径在1mm以上，长度1-10mm。 | ||
| 地址 | 200240上海市闵行区东川路800号 | ||