在测试模式设置操作下交接测试系统和嵌入式存储器的方法和装置

摘要

本发明提供了使安装在存储器系统上的存储器模块或安装在存储器模块上的数个存储器进入测试模式的方法，和引入了执行该方法的第一寄存器和第二寄存器。每个存储器制造者提供了相互不同的使存储器进入测试模式的MRS代码和相互不同的使存储器进入测试模式的方法。因此，将测试MRS的个数存储在控制存储器的第一寄存器中，和将测试MRS代码编程到第二寄存器中。另外，用于确定测试MRS的个数的存储在第一寄存器中的每个位分别对应于存储相应测试MRS代码的每个第二寄存器。

主权项

1.一种嵌入式存储器的测试模式交接方法，该方法包含：将测试模式进入序列数据编程到存储器测试寄存器中，测试模式进入序列数据对应于要测试的嵌入式存储器；检验在系统的正常操作期间是否输入了测试模式设置命令；当输入了测试模式设置命令时，访问编程在存储器测试寄存器中的测试模式进入序列数据，然后将嵌入式存储器设置成测试模式。