发明名称 |
PRUEBA AUTOMATICA INTEGRADA JERARQUICA. |
摘要 |
Un aparato para proporcionar autocomprobación integrada jerárquica para un sistema con chip, comprendiendo dicho aparato: un controlador BIST central; una pluralidad de circuitos BIST locales comprendiendo cada uno al menos un macro y al menos un generador de imagen de prueba para generar imágenes de prueba predefinidas; y al menos un medio de comunicación para realizar operaciones de control y transferencia entre dicho controlador BIST central y dicha pluralidad de circuitos BIST locales, realizando dicho controlador BIST central la prueba de los circuitos BIST locales en una forma jerárquica siguiendo un algoritmo de prueba jerárquico.
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申请公布号 |
ES2262810(T3) |
申请公布日期 |
2006.12.01 |
申请号 |
ES20020732895T |
申请日期 |
2002.05.15 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
CHEN, HOWARD, HAO;HSU, LOUIS, LU-CHEN;WANG, LI-KONG |
分类号 |
G01R31/28;G06F11/27;G01R31/3187;G06F11/22;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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