发明名称 PRUEBA AUTOMATICA INTEGRADA JERARQUICA.
摘要 Un aparato para proporcionar autocomprobación integrada jerárquica para un sistema con chip, comprendiendo dicho aparato: un controlador BIST central; una pluralidad de circuitos BIST locales comprendiendo cada uno al menos un macro y al menos un generador de imagen de prueba para generar imágenes de prueba predefinidas; y al menos un medio de comunicación para realizar operaciones de control y transferencia entre dicho controlador BIST central y dicha pluralidad de circuitos BIST locales, realizando dicho controlador BIST central la prueba de los circuitos BIST locales en una forma jerárquica siguiendo un algoritmo de prueba jerárquico.
申请公布号 ES2262810(T3) 申请公布日期 2006.12.01
申请号 ES20020732895T 申请日期 2002.05.15
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 CHEN, HOWARD, HAO;HSU, LOUIS, LU-CHEN;WANG, LI-KONG
分类号 G01R31/28;G06F11/27;G01R31/3187;G06F11/22;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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