| 发明名称 |
Test eines Halbleiterspeichers mit twin-cell Speicherzellen, jede zum Speichern eines Bits in gewöhnlicher und invertierter Form |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60211838(T2) |
申请公布日期 |
2006.11.09 |
| 申请号 |
DE20026011838T |
申请日期 |
2002.10.29 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD. |
发明人 |
SAWAMURA, TAKAHIRO;MATSUMIYA, MASATO |
| 分类号 |
G11C11/408;G11C29/14;G11C11/401;G11C29/12;G11C29/24 |
主分类号 |
G11C11/408 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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