发明名称 Variable clocked scan test circuitry and method
摘要
申请公布号 GB2415789(B) 申请公布日期 2006.08.16
申请号 GB20050020727 申请日期 2003.06.11
申请人 ON-CHIP TECHNOLOGIES INC 发明人 LAURENCE H COOKE
分类号 G01R31/3185;G01R31/28;G01R31/3183 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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