| 主权项 |
1.一种电容不匹配自动校正电路,包括: 一取样维持电路,包括: 一补偿电容列; 一目标电容; 一参考电容; 一比较器;以及 一开关控制电路;其中 该取样维持电路提供一输出电压,该输出电压为该 补偿电容列的等效电容、该目标电容、以及该参 考电容的运算结果; 该比较器根据该取样维持电路的输出电压为正値 或负値提供一比较信号; 该开关控制电路提供一补偿控制信号至该补偿电 容列以控制该补偿电容列的等效电容,并且在一时 脉信号的每一周期,根据该比较信号调整该补偿控 制信号,使该补偿电容列的等效电容加上该目标电 容的结果,随着该时脉信号的每一周期逐渐趋近该 参考电容。 2.如申请专利范围第1项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该取样维持电路的输出电压和该目标 电容加上该补偿电容列的等效电容再减去该参考 电容的结果成正比。 3.如申请专利范围第2项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该补偿电容列包括: 多个补偿电容,每一该些补偿电容皆耦接于该取样 维持电路的输出端;以及 多个补偿开关,每一该些补偿开关耦接于该些补偿 电容其中之一与一第一接点之间,根据该补偿控制 信号的其中一位元而导通或截止;此外 该目标电容耦接于该取样维持电路的输出端与该 第一接点之间; 该参考电容耦接于该取样维持电路的输出端与一 第二接点之间。 4.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该开关控制电路根据一校正启动信号 产生一开关控制信号,而且该取样维持电路更包括 一第一开关;若该开关控制信号为一第一状态,则 该第一开关导通一参考电压与该第二接点,若该开 关控制信号为一第二状态,则该第一开关导通该参 考电压与该第一接点。 5.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该目标电容的制程预设値等于该参考 电容的制程预设値乘以1-,为上述制程的标准 电容偏移量。 6.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,此外,该些补偿电容当中,第x个补偿电容的 预设値大于第x+1个补偿电容的预设値,x为正整数 。 7.如申请专利范围第6项所述之电容不匹配自动校 正电路,此外,该些补偿电容当中,第x个补偿电容的 预设値等于第x+1个补偿电容的预设値乘以2,x为正 整数。 8.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,此外,该些补偿电容当中,第一个补偿电容 的预设値等于该目标电容的预设値除以2m,m<1og2(1/ )-1,为制程的标准电容偏移量。 9.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,此外,该些补偿电容当中,最小补偿电容的 预设値是根据制程电容布局的最小可容许尺寸而 决定。 10.如申请专利范围第3项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该参考电容为多个电容并联组成。 11.如申请专利范围第1项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该比较器以反相输入端耦接于该取样 维持电路的输出端,以正相输入端接地,以输出端 耦接于该开关控制电路。 12.如申请专利范围第11项所述之电容不匹配自动 校正电路,其中若该取样维持电路的输出电压为正 値,则该比较信号为一第二状态,否则该比较信号 为一第一状态。 13.如申请专利范围第11项所述之电容不匹配自动 校正电路,更包括一第二开关,该第二开关耦接于 该比较器的正相输入端与反相输入端之间,根据一 开关控制信号而导通或截止,该开关控制信号是该 开关控制电路根据一校正启动信号而产生。 14.如申请专利范围第1项所述之电容不匹配自动校 正电路,其中该开关控制电路包括: 一移位暂存器,提供一移位信号,在该时脉信号的 第x个周期,该移位信号的第x位元为一第一状态,其 余位元为一第二状态,x为正整数; 一闩锁电路,提供一闩锁信号,并且在该移位信号 的第x位元为该第一状态时,将该比较信号闩锁为 该闩锁信号的第x位元;以及 多个或闸,其中第x个或闸接收该移位信号的第x位 元与该闩锁信号的第x位元,该补偿控制信号是根 据该些或闸的输出而产生。 15.如申请专利范围第14项所述之电容不匹配自动 校正电路,其中该移位暂存器包括多个延迟正反器 ,每一该些延迟正反器皆以时脉端接收该时脉信号 ,其中第一个延迟正反器的输入端始终维持该第一 状态,并且以反相输出端提供该移位信号的第一位 元,其余第x个延迟正反器以输入端接收该移位信 号的第x-1位元,以正相输出端提供该移位信号的第 x位元。 16.如申请专利范围第14项所述之电容不匹配自动 校正电路,此外该闩锁电路包括多个闩锁器,其中 第x个闩锁器接收该移位信号的第x位元与该比较 信号,输台该闩锁信号的第x位元,并且在该移位信 号的第x位元为该第一状态时,将该比较信号闩锁 为该闩锁信号的第x位元。 17.如申请专利范围第14项所述之电容不匹配自动 校正电路,其中该开关控制电路更包括: 一第一反相器,接收一校正启动信号; 多个及闸,每一该些及闸接收该些或闸其中之一的 输出信号以及该第一反相器的输出信号,输出该补 偿控制信号的其中一位元;以及 一转态侦测器,在该第一反相器的输出信号由该第 二状态转为该第一状态时输出一重置信号至该移 位暂存器与该闩锁电路,以重置该移位信号与该闩 锁信号。 18.如申请专利范围第17项所述之电容不匹配自动 校正电路,其中该开关控制电路更包括: 一第二反相器,接收该第一反相器的输出信号,并 输出一开关控制信号; 此外该电容不匹配自动校正电路更包括: 一第一开关,若该开关控制信号为该第一状态,则 导通一参考电压与该参考电容,若该开关控制信号 为该第二状态,则导通该参考电压、该补偿电容列 与该目标电容;以及 一第二开关,耦接于该比较器的正相输入端与反相 输入端之间,在该开关控制信号为该第一状态时导 通,在该开关控制信号为该第二状态时截止。 图式简单说明: 图1为传统的DAC加上电容不匹配自动校正电路的架 构图。 图2为根据于本发明一实施例的电容不匹配自动校 正电路架构图。 图3为图2的取样维持电路的详细架构图。 图4为图2的开关控制电路的详细架构图。 图5为图2电路的自动校正流程图。 图6为传统连续渐进式类比数位转换器的架构图。 图7为图6的连续渐进式类比数位转换器加上根据 于本发明一实施例的电容不匹配自动校正电路的 架构图。 |
