发明名称 光信息处理装置和光信息处理方法
摘要 提供使从光盘重放的重放信号质量良好的光信息处理装置和光信息处理方法。光信息处理装置的特征在于包括:光头,向光信息记录媒体照射光,并将所述光信息记录媒体反射的所述光变换成光头信号输出;信号质量检测器,根据从所述光头输出的所述光头信号来检测表示所述光头信号的质量的信号质量指标;以及二维探测器,通过改变向所述光信息记录媒体照射的所述光的聚焦位置和球面像差量,来探测使所述信号质量指标检测器检测出的所述信号质量指标的值达到最合适的聚焦位置和球面像差量。
申请公布号 CN1267914C 申请公布日期 2006.08.02
申请号 CN02154041.1 申请日期 2002.12.06
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 安田昭博;门胁慎一;佐野晃正;久世雄一
分类号 G11B7/12(2006.01);G11B7/09(2006.01) 主分类号 G11B7/12(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 刘宗杰;王忠忠
主权项 1.一种光信息处理装置,其特征在于,包括:光头,向光信息记录媒体照射光,并将所述光信息记录媒体反射的所述光变换成光头信号输出;信号质量指标检测器,根据从所述光头输出的所述光头信号来检测表示所述光头信号的质量的信号质量指标;以及二维探测器,通过改变向所述光信息记录媒体照射的所述光的聚焦位置和球面像差量,来探测使所述信号质量指标检测器检测出的所述信号质量指标的值达到最合适的聚焦位置和球面像差量,所述二维探测器包括:聚焦位置探测器,通过改变所述聚焦位置,来探测使所述信号质量指标的值达到最合适的聚焦位置;以及球面像差量探测器,通过改变所述球面像差量,来探测使所述信号质量指标的值达到最合适的球面像差量,所述二维探测器通过交替重复进行所述聚焦位置探测器的所述聚焦位置的探测和所述球面像差量探测器的所述球面像差量的探测,来探测使所述信号质量指标的值达到最合适的聚焦位置和球面像差量。
地址 日本大阪府