VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DIAGNOSE VON AUSFÄLLEN IN EINER INTEGRIERTEN SCHALTUNG UNTER VERWENDUNG VON TECHNIKEN DES TYPS DESIGN-FOR-DEBUG (DFD),申请号DE20026011659-传众专利搜索

发明名称	VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR DIAGNOSE VON AUSFÄLLEN IN EINER INTEGRIERTEN SCHALTUNG UNTER VERWENDUNG VON TECHNIKEN DES TYPS DESIGN-FOR-DEBUG (DFD)
摘要
申请公布号	DE60211659(D1)	申请公布日期	2006.06.29
申请号	DE20026011659	申请日期	2002.02.28
申请人	SYNTEST TECHNOLOGIES, INC.	发明人	WANG, LAUNG-TERNY;CHANG, MING-TUNG;LIN, SHYH-HORNG;CHAO, HAO-JAN;LEE, JACHEE;WANG, HSIN-PO;WEN, XIAOQING;HSU, PO-CHING;KAO, SHIH-CHIA;LIN, MENG-CHYI;TSAI, SEN-WEI;HSU, CHI-CHAN
分类号	H02H3/05;G01R31/317;G01R31/3185;H03K19/003	主分类号	H02H3/05
代理机构		代理人
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