发明名称 APPARATUS FOR SIMULATION OF TEMPERATURE OF TEST HANDLER
摘要
申请公布号 KR20060071554(A) 申请公布日期 2006.06.27
申请号 KR20040110173 申请日期 2004.12.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, MIN;KIM, GWANG EUN;SHIN, SU DONG;MIN, KYOUNG WOON
分类号 G01R31/26;G01K7/02;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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