发明名称 Ermittlungsverfahren für eine tatsächliche Absolutlage eines relativ zu einem Grundelement bewegbaren Zusatzelements, korrespondierendes Erstellverfahren für eine Korrekturwerttabelle, korrespondierende Ermittlungseinrichtung und Speichereinrichtung, in der eine Korrekturwerttabelle hinterlegt ist
摘要 Ein Zusatzelement (2) ist relativ zu einem Grundelement (1) bewegbar. Eine mit dem Grundelement (1) verbundene Gebereinrichtung (4) tastet eine mit dem Zusatzelement (2) zusammenwirkende, relativ zur Gebereinrichtung (4) bewegbare Maßverkörperung (5) ab. Die Gebereinrichtung (4) weist mindestens zwei Signalgeber (6) auf, von denen jeder ein binarisierbares Messsignal (x, y) liefert. Anhand von simultan erfassten binarisierten Messsignalen (x, y) als solchen oder anhand einer Änderung mindestens eines der binarisierten Messsignale (x. y) in Verbindung mit einem bereits bekannten Bereich ist ein neuer Bereich ermittelbar, in dem die Maßverkörperung (5) relativ zur Gebereinrichtung (4) angeordnet ist. Eine Auswerteeinrichtung (9) ermittelt anhand der Messsignale (x, y) eine Lage der Maßverkörperung (5) relativ zur Gebereinrichtung (4) und daraus eine scheinbare Absolutlage (p', p'') des Zusatzelements (2) relativ zum Grundelement (1). Aus einer Korrekturwerttabelle (12), in der für jeden Bereich mindestens ein Korrekturwert (k) hinterlegt ist, wird mindestens ein durch die scheinbare Absolutlage (p', p'') bestimmter Korrekturwert (k) ausgelesen und daraus eine tatsächliche Absolutlage (p) des Zusatzelements (2) relativ zum Grundelement (1) ermittelt. Zum Erstellen der Korrekturwerttabelle (12) ist zuvor in jedem Bereich mindestens einmal mittels einer Lageerfassungseinrichtung (11) auch die tatsächliche Absolutlage (p) ermittelt und ein korrespondierender Korrekturwert (k) ...
申请公布号 DE102004038622(B3) 申请公布日期 2006.05.18
申请号 DE200410038622 申请日期 2004.08.09
申请人 SIEMENS AG 发明人 KNORR, MARKUS
分类号 G01B21/00 主分类号 G01B21/00
代理机构 代理人
主权项
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