光盘装置

摘要

光盘装置(10)包含光学透镜(14)。激光通过光学透镜(14)向磁光盘(68)的记录面照射，根据在记录面反射的激光检测TE信号或RF信号。这里，MPU(50)使光学透镜(14)在光轴方向上移位，TE信号检测电路(42)或RF信号检测电路(60)在移位的各透镜位置检测TE信号或RF信号。由MPU(50)调节激光功率，使检测的各TE信号或RF信号的振幅低于饱和值。调节参数后，控制光学透镜(14)的位置，使随后检测的TE信号或RF信号的振幅达到最大。

主权项

1.一种光盘装置(10)，包括：半导体激光器(20)，发出激光；透镜(14)，向光盘记录介质(68)的记录面照射由所述半导体激光器发出的激光；检测单元(42，60)，根据从所述记录面反射的激光检测第一信号；布置单元(S11，S25，S 29，S45，S63，S77，S81，S95，S111，S125，S129，S143)，在照射到所述记录面的激光的光轴方向布置所述透镜；调节单元(S19，S37，S71，S89，S119，S137)，调节所述半导体激光器的功率，使得由所述检测单元检测到的第一信号的振幅对于由所述布置单元布置的所述透镜的每个位置都低于一个阈值；控制单元(S159，44)，在所述调节单元的调节操作完成之后，根据所述检测单元检测到的第一信号控制所述透镜的位置；和再生单元(S171，66)，与所述控制单元的控制操作同时，根据从所述记录面反射的激光再生第二信号。