发明名称 |
teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo |
摘要 |
"TESTE DE CIRCUITOS A CAPACITORES CHAVEADOS USANDO SEçõES PASSA-TUDO". A presente inovação consiste de uma metodologia de teste de circuitos a capacitores chaveados implementados por conexão paralela de seções com funções de transferência recursivas do tipo passa-tudo, que por sua vez são realizadas por seções passa-tudo de primeira e segunda ordens conectadas em série. O teste é completamente alcançado pela medição das respostas de filtros do tipo notch de segunda ordem e filtros passa-baixas ou passa-altas de primeira ordem. Apesar de ser mais simples, e o circuito necessário para a realização do teste ser menor do que os de outros métodos de teste conhecidos, o procedimento de teste é capaz de detectar múltiplas falhas paramétricas e estimar com precisão o valor realmente fabricado em circuito integrado das razões de capacitâncias que determinam os coeficientes da função de transferência do circuito.
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申请公布号 |
BRPI0403071(A) |
申请公布日期 |
2006.03.14 |
申请号 |
BR2004PI03071 |
申请日期 |
2004.07.27 |
申请人 |
COPPE/UFRJ-COODERNACAO DOS PROGRAMAS DE POS GRADUACAO DE ENGENHARIA DA UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO |
发明人 |
ANTONIO PETRAGLIA;MARIANE REMBOLD PETRAGLIA;JORGE MORALES CANIVE |
分类号 |
G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02 |
主分类号 |
G01R31/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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