发明名称 MEMORY MODULE AND DEVICE FOR TEST OF SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号 KR20060018626(A) 申请公布日期 2006.03.02
申请号 KR20040067099 申请日期 2004.08.25
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, JONG HOON;PARK, KWANG SOO
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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