发明名称 具不良品承载单元之半导体封装模流平衡方法
摘要 一种具不良品承载单元之半导体封装模流平衡方法,其系提供一晶片承载件,该晶片承载件系包含有复数个良品承载单元与至少一不良品承载单元,将复数个晶片固设于该晶片承载件之该些良品承载单元,并于该晶片承载件之该不良品承载单元形成一拟晶胶材,接着,压模形成一封胶体于该晶片承载件,该封胶体系包覆该些晶片与该拟晶胶材,以增进半导体封装模流平衡。
申请公布号 TW200539399 申请公布日期 2005.12.01
申请号 TW093115529 申请日期 2004.05.31
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 翁国良;李士璋;戴惟璋
分类号 H01L23/16 主分类号 H01L23/16
代理机构 代理人
主权项
地址 高雄市楠梓加工出口区经三路26号