发明名称 BUILT-IN-SELF-TEST OF FLASH MEMORY CELLS
摘要
申请公布号 EP1529293(B1) 申请公布日期 2005.11.23
申请号 EP20030765441 申请日期 2003.06.10
申请人 ADVANCED MICRO DEVICES, INC. 发明人 BILL, COLIN, S.;HALIM, AZRUL;HAMILTON, DARLENE;BAUTISTA, EDWARD, V., JR.;LEE, WENG, FOOK;CHEAH, KEN, CHEONG;LAW, CHEE, BOON;TEH, BOON, TANG;KUCERA, JOSEPH;SALLEH, SYAHRIZAL
分类号 G01R31/28;G11C15/04;G11C16/02;G11C16/06;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/16;G11C29/44;G11C29/48;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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