发明名称 Halbleiterbauelement-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19680786(B4) 申请公布日期 2005.09.01
申请号 DE19961080786 申请日期 1996.07.24
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 KOBAYASHI, YOSHIHITO;YAMASHITA, TSUYOSHI;NAKAMURA, HIROTO;NEMOTO, SHIN;MASUO, YOSHIYUKI;ITO, AKIHIKO
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L21/677;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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