发明名称 检测半导体动态量传感器的方法
摘要 一种检测半导体动态量的方法,包括改变施加到周边固定部分(50)的电位(V4),同时向固定电极(31、41)和可移动电极(24)施加预定电位(V1、V2)和(V3),从而改变所述可移动电极(24)和所述支撑衬底(11)之间的电位差,并使所述可移动电极(24)在垂直于所述衬底表面的方向上位移。
申请公布号 CN1655335A 申请公布日期 2005.08.17
申请号 CN200510009003.2 申请日期 2005.02.16
申请人 株式会社电装 发明人 五藤敬介
分类号 H01L21/66;H01L29/84;G01P15/125 主分类号 H01L21/66
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 王英
主权项 1、一种检测半导体动态量传感器的方法,包括:沿着支撑衬底(11)的周边被固定和支撑在所述支撑衬底(11)上的半导体的周边固定部分(50);在所述周边固定部分(50)的内侧被支撑在支撑衬底(11)上的半导体的可移动电极(24),该可移动电极(24)可在水平方向上相对于所述衬底表面位移;以及在所述周边固定部分(50)的内侧被固定和支撑在支撑衬底(11)上的半导体的固定电极(31、41),该固定电极(31、41)与所述可移动电极(24)相对;从而在施加动态量时,根据伴随着所述可移动电极(24)的位移的所述可移动电极(24)和所述固定电极(31、41)之间的距离的变化来检测所施加的动态量,该方法包括:改变施加到所述周边固定部分(50)的电位,同时向所述固定电极(31、41)和所述可移动电极(24)施加预定电位,从而改变所述可移动电极(24)和所述支撑衬底(11)之间的电位差,并使所述可移动电极(24)在垂直于所述衬底表面的方向上位移。
地址 日本爱知
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