发明名称 |
检测半导体动态量传感器的方法 |
摘要 |
一种检测半导体动态量的方法,包括改变施加到周边固定部分(50)的电位(V4),同时向固定电极(31、41)和可移动电极(24)施加预定电位(V1、V2)和(V3),从而改变所述可移动电极(24)和所述支撑衬底(11)之间的电位差,并使所述可移动电极(24)在垂直于所述衬底表面的方向上位移。 |
申请公布号 |
CN1655335A |
申请公布日期 |
2005.08.17 |
申请号 |
CN200510009003.2 |
申请日期 |
2005.02.16 |
申请人 |
株式会社电装 |
发明人 |
五藤敬介 |
分类号 |
H01L21/66;H01L29/84;G01P15/125 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
王英 |
主权项 |
1、一种检测半导体动态量传感器的方法,包括:沿着支撑衬底(11)的周边被固定和支撑在所述支撑衬底(11)上的半导体的周边固定部分(50);在所述周边固定部分(50)的内侧被支撑在支撑衬底(11)上的半导体的可移动电极(24),该可移动电极(24)可在水平方向上相对于所述衬底表面位移;以及在所述周边固定部分(50)的内侧被固定和支撑在支撑衬底(11)上的半导体的固定电极(31、41),该固定电极(31、41)与所述可移动电极(24)相对;从而在施加动态量时,根据伴随着所述可移动电极(24)的位移的所述可移动电极(24)和所述固定电极(31、41)之间的距离的变化来检测所施加的动态量,该方法包括:改变施加到所述周边固定部分(50)的电位,同时向所述固定电极(31、41)和所述可移动电极(24)施加预定电位,从而改变所述可移动电极(24)和所述支撑衬底(11)之间的电位差,并使所述可移动电极(24)在垂直于所述衬底表面的方向上位移。 |
地址 |
日本爱知 |