发明名称 光碟机之锁轨位置校正方法
摘要 一种光碟机之锁轨位置校正方法,以将一光碟机之一光学读取头锁至经校正之一校正锁轨位置,此方法之简述如下:首先,依据循轨误差信号(Tracking Error, TE)进行初步锁轨程序,以将光学读取头锁至初步锁轨位置。然后,进行锁轨位置校正程序,以将该光学读取头微调至射频脉动信号(Radio Frequency Ripple, RFRP)之振幅近似为最大值之校正锁轨位置。本方法可以避免因TE信号的误差而造成的锁轨位置不正确,以将光学读取头锁至正确的轨道中心,而提高资料读取之品质。
申请公布号 TWI237808 申请公布日期 2005.08.11
申请号 TW090120154 申请日期 2001.08.16
申请人 威盛电子股份有限公司 发明人 李松鸿;赖义麟
分类号 G11B20/00 主分类号 G11B20/00
代理机构 代理人 林素华 台北市信义区忠孝东路5段510号22楼之2
主权项 1.一种光碟机之锁轨位置校正方法,用于一光碟机,其具有一光学读取头锁,该方法包括:(a)依据一第一跨轨信号将该光学读取头锁至一初步锁轨位置;以及(b)依据一第二跨轨信号决定是否将该光学读取头对应于该初步锁轨位置而移动至一校正锁轨位置,步骤(b)包括:(b1)将该光学读取头沿一第一方向从该初步锁轨位置位移至一第一校正位置,然后将一第一参数定义为此时之该第二跨轨信号値;(b2)将该光学读取头沿一第二方向从该初步锁轨位置位移至一第二校正位置,然后将一第二参数定义为此时之该第二跨轨信号値;以及(b3)检查该第一参数与该第二参数之差値是否小于一门槛値,若是,表示该初步锁轨位置即为该校正锁轨位置。2.如申请专利范围第1项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第一参数大于该第二参数时,该光学读取头系从该初始锁轨位置沿着该第一方向移动一新距离,并定义为该第一校正位置。3.如申请专利范围第1项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第二参数大于该第一参数时,该光学读取头系从该初始锁轨位置沿着该第二方向移动一新距离,并定义为该第二校正位置。4.如申请专利范围第1项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,该第一方向与该第二方向系为相反。5.如申请专利范围第1项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中该第一跨轨信号系为一循轨误差(tracking error, TE)信号,且该第二跨轨信号系为一射频脉动(Radio Frequency Ripple, RFRP)信号;其中在步骤(a)中,当该光学读取头锁至该初步锁轨位置时,该TE信号系为零。6.一种光碟机之锁轨位置校正方法,该光碟机具有一光学读取头锁,该方法包括:依据一TE信号将该光学读取头锁至一初步锁轨位置;以及依据该RFRP信号以决定是否将该光学读取头对应于该初步锁轨位置而移至一校正锁轨位置,包括:(a)将该光学读取头沿着一第一方向从该初步锁轨位置位移至一第一校正位置,然后将一第一参数定义为此时之RFRP信号値;(b)将该光学读取头沿着一第二方向从该初步锁轨位置位移至一第二校正位置,然后将一第二参数定义为此时之RFRP信号値;以及(c)检查该第一参数与该第二参数之差値是否小于一门槛値,若是,表示该初步锁轨位置即为该校正锁轨位置,若否,则将该初步锁轨位置移动至一新位置,并回到步骤(a)。7.如申请专利范围第6项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中当该光学读取头锁至该初步锁轨位置时,该TE信号系为零。8.如申请专利范围第6项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(c)中,当该第一参数大于该第二参数时,该光学读取头系沿着该第一方向移动至该新位置,并且该新位置系定义为该第一校正位置。9.如申请专利范围第6项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(c)中,当该第二参数大于该第一参数时,该光学读取头系依沿着第二方向移动至该新位置,并且该新位置系定义为该第二校正位置。10.如申请专利范围第6项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,该第一方向与该第二方向系为相反。11.一种光碟机之锁轨位置校正方法,该光碟机具有一光学读取头,该方法包括:(a)依据一第一跨轨信号将该光学读取头锁至一初步锁轨位置;以及(b)依据一第二跨轨信号决定是否将该光学读取头对应于该初步锁轨位置而移动至一校正锁轨位置;其中,该第一跨轨信号系为一循轨误差信号(TE),该第二跨轨信号系为一射频脉动信号(RFRP),且于步骤(a)中当该光学读取头到达该初步锁轨位置时,该TE信号系为零。12.如申请专利范围第11项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中步骤(b)包括:(b1)将该光学读取头沿一第一方向从该初步锁轨位置位移至一第一校正位置,然后将一第一参数定义为此时之该第二跨轨信号値;(b2)将该光学读取头沿一第二方向从该初步锁轨位置位移至一第二校正位置,然后将一第二参数定义为此时之该第二跨轨信号値;以及(b3)检查该第一参数与该第二参数之差値是否小于一门槛値,若是,表示该初步锁轨位置即为该校正锁轨位置。13.如申请专利范围第12项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第一参数大于该第二参数时,该光学读取头系依该第一方向从该初步锁轨位置移动一新距离,该新距离系定义该第一校正位置。14.如申请专利范围第12项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第二参数大于该第一参数时,该光学读取头系依该第二方向从该初步锁轨位置移动一新距离,该新距离系定义该第二校正位置。15.一种光碟机之锁轨位置校正方法,该光碟机具有一光学读取头锁,该光学读取头系产生一循轨误差信号(TE)及一射频脉动信号(RFRP),该方法包括:(a)依据该TE信号将该光学读取头锁至一初步锁轨位置,其中当该光学读取头移至该初步锁轨位置时,该TE信号系为零;以及(b)依据该RFRP信号之一最大値而将该光学读取头从该初步锁轨位置移动到一校正锁轨位置。16.如申请专利范围第15项所述之方法,其中,步骤(b)包括:(b1)将该光学读取头沿着一第一方向从该初步锁轨位置位移至一第一校正位置,然后将一第一参数定义为此时之RFRP信号値;(b2)将该光学读取头沿着一第二方向从该初步锁轨位置位移至一第二校正位置,然后将一第二参数定义为此时之RFRP信号値;以及(b3)检查该第一参数与该第二参数之差値是否小于一门槛値,若是,表示该初步锁轨位置即为该校正锁轨位置,若否,则将该初步锁轨位置移动至一新位置,并回到步骤(b1)。17.如申请专利范围第16项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第一参数大于该第二参数时,该光学读取头系沿着该第一方向移动至该新位置,并且该新位置系定义为该第一校正位置。18.如申请专利范围第16项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,在步骤(b3)中,当该第二参数大于该第一参数时,该光学读取头系依沿着第二方向移动至该新位置,并且该新位置系定义为该第二校正位置。19.如申请专利范围第16项所述之光碟机之锁轨位置校正方法,其中,该第一方向与该第二方向系为相反。图式简单说明:第1图绘示为光碟机系统架构之方块图。第2图绘示乃光碟机内部之各种信号之时脉图。第3图绘示为TE信号与RFRP信号之时脉图。第4图绘示依照本发明一较佳实施例的一种光碟机之锁轨位置校正方法之流程图。
地址 台北县新店市中正路535号8楼