| 主权项 |
1.一种部分补偿一发射显示装置之亮度之方法,该方法包含:估计该发射显示装置含括之一或多个有机发光二极体(OLEDs)之劣化数量;以及至少部分基于该估値而调整该一或多个OLEDs之亮度。2.如申请专利范围第1项之方法,其中该调整包含调整亮度,让亮度实质维持恒定而实质上与该一或多个OLEDs之劣化量独立无关。3.如申请专利范围第2项之方法,其中该估计包括估计实质上与该劣化有交互关联之一特性。4.如申请专利范围第3项之方法,其中该估计包括于实质上恒定流经该一或多个OLEDs之电流,测量跨该一或多个OLEDs之电压。5.如申请专利范围第2项之方法,其中测量跨该一或多个有机发光二极体(OLEDs)之电压包括测量该一或多个OLEDs之反向偏压电阻。6.如申请专利范围第1项之方法,其中该调整包括调整施加至该一或多个有机发光二极体(OLEDs)之电能量。7.如申请专利范围第6项之方法,其中该调整包括升高跨该一或多个OLEDs施加之电压。8.如申请专利范围第7项之方法,其中该升高包括利用查表。9.如申请专利范围第8项之方法,其中该查表包括数値,因而让藉该调整所达成之一或多个有机发光二极体(OLEDs)之亮度大致上随着时间之经过而降低。10.如申请专利范围第1项之方法,其中该方法进一步包含至少部分基于估计一或多个其它有机发光二极体(OLEDs)之劣化量,而调整该一或多个有机发光二极体(OLEDs)之亮度。11.一种部分补偿一发射显示装置之亮度之装置,包含:一或多个有机发光二极体(OLEDs);一测量电路;以及一控制系统;其中该OLEDs、测量电路及控制系统经耦合,于操作期间,该测量电路估计该一或多个OLEDs之劣化量,以及该控制系统至少部分基于估计得之劣化而调整OLEDs亮度。12.如申请专利范围第11项之装置,其中该控制系统可调整亮度,因而让亮度实质上维持恒定且实质上与该一或多个OLEDs之劣化量无关。13.如申请专利范围第1项之装置,其中由该测量电路所做劣化量之估计,包括估计实质上与该劣化有交互关联之一特性。14.如申请专利范围第13项之装置,其中该测量电路可测量于实质上恒定电流操作之一或多个有机发光二极体(OLEDs)之反向偏压电阻。15.如申请专利范围第12项之装置,其中该控制系统系经由调整流经该有机发光二极体(OLEDs)之实质瞬间电流而调整该一或多个OLEDs之亮度。16.如申请专利范围第11项之装置,其中该控制系统包含一系列资料,该等资料可表示期望亮度与该一或多个OLEDs之估计劣化间之交互关系。17.如申请专利范围第16项之装置,其中该控制系统利用该系列资料来调整一或多个OLEDs之亮度。18.如申请专利范围第17项之装置,其中该控制系统包含一系列资料,该等资料表示期望亮度与该一或多个OLEDs之估计劣化间之交互关系,因而期望亮度系随着该一或多个OLEDs之估计劣化之增加而降低。19.如申请专利范围第12项之装置,其中该控制系统包括具有复数个机器可存取指令之一储存媒体,其中,当该等指令系由该控制系统执行时,指令提供利用来自该测量电路之一信号;估计该OLEDs之期望亮度;以及至少部分基于该信号而调整施加至该OLEDs之电流。20.一种部分补偿一发射显示装置之亮度之系统,包含:一接受器,其系由来自系统实体远端之来源以数位格式接受视讯信号;由一或多个有机发光二极体(OLEDs)组成之阵列;一测量电路;以及一控制系统;其中该接收器分送该数位信号至该OLEDs阵列,以及其中该OLEDs阵列、测量电路及控制系统经耦合,于操作期间,该测量电路估计该一或多个OLEDs之劣化量,以及该控制系统至少部分基于估计得之劣化而调整OLEDs亮度。21.如申请专利范围第20项之系统,其中该控制系统可调整亮度,因而让亮度实质上维持恒定且实质上与该OLEDs阵列之劣化量无关。22.如申请专利范围第20项之系统,其中由该测量电路所做劣化量之估计,包括估计实质上与该劣化有交互关联之一特性。23.如申请专利范围第22项之系统,其中该测量电路可测量于实质上预定电流操作之该至少一OLED之反向偏压电阻。24.如申请专利范围第22项之系统,其中该控制系统系经由调整流经该有机发光二极体(OLEDs)之实质瞬间电流而调整该OLEDs阵列之亮度。25.如申请专利范围第24项之系统,其中该控制系统包括具有复数个机器可存取指令之一储存媒体,其中当该等指令系由该控制系统执行时,指令提供利用来自该测量电路之一信号;估计该OLEDs之期望亮度;以及至少部分基于该信号而调整施加至该OLEDs之电流。26.如申请专利范围第24项之系统,其中该控制系统包含一系列资料其表示期望亮度与该OLEDs阵列之估计劣化间之交互关系,以及该控制系统利用该系列资料来调整该OLEDs阵列之亮度。27.如申请专利范围第26项之系统,其中该控制系统包含一系列资料,该等资料表示期望亮度与该一或多个OLEDs之估计劣化间之交互关系,因而期望亮度系随着该一或多个OLEDs之估计劣化之增加而降低。28.如申请专利范围第21项之系统,其中该控制系统包含复数个控制子系统,各别子系统系用以调整该一或多个有机发光二极体(OLEDs)阵列之特定各别子集之输出亮度。29.如申请专利范围第28项之系统,其中该阵列之有机发光二极体(OLEDs)系耦合至一测量电路与控制系统,该测量电路与控制系统可测量各别OLEDs之劣化且可各别调整OLEDs之亮度。图式简单说明:图1为线图显示初始有机发光二极体(OLED)之典型电流及亮度特性;图2为线图显示老化有机发光二极体(OLED)之典型电流及亮度特性;图3为线图显示有机发光二极体(OLED)之电压及亮度呈使用之函数可能之位移,其可用以调整OLED亮度;以及图4为略图显示调整有机发光二极体(OLED)亮度之电路具体实施例。 |
