Vorrichtung und Verfahren zum parallelen und unabhängigen Test spannungsversorgter Halbleiterspeichereinrichtungen,申请号DE20021002904-传众专利搜索

发明名称	Vorrichtung und Verfahren zum parallelen und unabhängigen Test spannungsversorgter Halbleiterspeichereinrichtungen
摘要
申请公布号	DE10202904(B4)	申请公布日期	2004.11.18
申请号	DE20021002904	申请日期	2002.01.25
申请人	INFINEON TECHNOLOGIES AG	发明人	HARTMANN, UDO
分类号	G01R31/3185;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/28;G01R31/319	主分类号	G01R31/3185
代理机构		代理人
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