发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Evaluierung der Qualität eines Halbleitersubstrats
摘要
申请公布号 DE10115264(B4) 申请公布日期 2004.07.01
申请号 DE20011015264 申请日期 2001.03.28
申请人 MITSUBISHI MATERIALS SILICON CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 HASEGAWA, TAKESHI;ITO, TERUMI;SHIRAKI, HIROYUKI
分类号 G01B11/30;G01N21/64;(IPC1-7):G01N21/64;H01L21/66 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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