发明名称 基底及其制造方法
摘要 提供一种制造一基底之方法,此基底具有一部分绝缘层于一半导体层底下。藉由执行下列步骤以获得一部分SOI基底(40):形成第一基底之步骤,该第一基底具有一分离层、一于分离层上之第一半导体层(13)、一于第一半导体层(13)上之部分绝缘层(14a)、及一暴露于部分绝缘层(14a)中之第一半导体层(13)上及部分绝缘层(14a)上的第二半导体层(15b、16b);一接合一第二基底(20)至第一基底上之第二半导体层(15b、16b)以形成一接合基底堆叠的步骤;及一分裂接合基底堆叠于分离层上之步骤。
申请公布号 TW200406819 申请公布日期 2004.05.01
申请号 TW092124376 申请日期 2003.09.03
申请人 佳能股份有限公司 发明人 口清文
分类号 H01L21/02 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本