| 发明名称 | 以波形判断连接失效发生位置的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种以波形判断连接失效发生位置的方法，能够以非破坏的方式判断出组件连接失效区域并加以分析，该方法是利用时域反射测量器测量样本的反射波形，并记录储存的，再测量待测件的反射波形且记录的，并比对待测件及样本的反射波形，借此既可判断待测件内的连接失效位置，以提供生产者了解其制程及生产问题。 | ||
| 申请公布号 | CN1479109A | 申请公布日期 | 2004.03.03 |
| 申请号 | CN02141501.3 | 申请日期 | 2002.08.30 |
| 申请人 | 威盛电子股份有限公司 | 发明人 | 徐鑫洲 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R31/02;G06F11/22 | 主分类号 | G01R31/28 |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 楼仙英;潘培坤 |
| 主权项 | 1、一种以波形判断连接失效发生位置的方法，其步骤包括：将讯号输入样本，并接收储存该样本的反射波，用以建立样本反射波模型；将讯号输入待测件并记录其反射波讯号；及将该待测件的反射波与该样本的反射波模型比对，即可判断出连接失效发生位置。 | ||
| 地址 | 中国台湾 | ||