发明名称 Zeitkalibrierverfahren für IC-Tester und das Kalibrierverfahren verwendender IC-Tester mit Kalibrierfunktion
摘要
申请公布号 DE10082751(C2) 申请公布日期 2003.10.30
申请号 DE20001082751 申请日期 2000.08.16
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO 发明人 OKAYASU, TOSHIYUKI;SEKI, NOBUSUKE
分类号 G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/318;G01R35/00 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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