发明名称 Overlay metrology using scatterometry profilng
摘要
申请公布号 GB0308958(D0) 申请公布日期 2003.05.28
申请号 GB20030008958 申请日期 2003.04.17
申请人 OF SINGAPORE;AGERE SYSTEMS INC 发明人
分类号 H01L21/027;G01B11/27;G03F7/20 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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