发明名称 测量宽频天线的方法
摘要 本案为一种测量宽频天线的方法,系利用电波暗室来量测宽频天线的天线因子,该电波暗室内产生一标准电场强度,藉以验证该宽频天线,以得到一第一天线因子(Antenna Factor),再对该宽频天线进行一电脑模拟,求出一第二天线因子,进而比较该第一天线因子及该第二天线因子,以求得一不确定度(Uncertainty)较低的天线因子。
申请公布号 TW515896 申请公布日期 2003.01.01
申请号 TW090122174 申请日期 2001.09.07
申请人 财团法人台湾电子检验中心 发明人 王裕惠;林根煌;蔡荣钧;李海清
分类号 G01R29/08 主分类号 G01R29/08
代理机构 代理人 岑英培 台北县板桥市满平街二巷二十三号五楼
主权项 1.一种测量宽频天线的方法,包含下列步骤:提供一电波暗室,藉以隔离外界电磁波干扰,该电波暗室系提供一己知之电场强度,并使用频谱分析仪藉以验证该宽频天线之端点电压,以得到一第一天线因子(Antenna Factor);对该宽频天线进行一电脑模拟,求出一第二天线因子;以及比较该第一天线因子及该第二天线因子,以求得一可靠的天线因子。2.如申请专利范围第1项所述之测量宽频天线的方法,其中该宽频天线系包含一双圆锥天线(Biconical Antenna)、对数周期偶极天线(LPDA,Log periodic dipole array)、双对数天线(Bi-log Antenna)、螺旋天线(Spiral Antenna)。3.如申请专利范围第1项所述之测量宽频天线的方法,其中该电波暗室系为以一吸波材料建构之一封闭空间,并其可能是TEM Ce11或GTFM Ce11。4.如申请专利范围第1项所述之测量宽频天线的方法,其中应使用不确定度为被测天线不确定度十分之一的场强测试设备(Field Strength Tester)来确实判定电波暗室中的电场强度。5.如申请专利范围第1项所述之测量宽频天线的方法,其中该电脑模拟的方法系为一矩量法电磁场电脑模拟方法(Method of Moments, Numerical Analysis for EM Fields)。6.如申请专利范围第5项所述之测量宽频天线的方法,其中该矩量法电磁场电脑模拟方法更可求出一场地衰减(Normalized Site Attenuation)及一天线相位中心点(Phase Center)。7.如申请专利范围第6项所述之测量宽频天线的方法,其中求出该天线相位中心点系包含一最小相位变化中心法、一最大电流分布法及一内插法。8.如申请专利范围第6项所述之测量宽频天线的方法,其中该宽频天线系为一能用于电磁相容(EMC)检测的宽频天线。图式简单说明:图一:本案较佳实施例之测量宽频天线的系统架构。图二:本案较佳实施例之天线接收电场E及接收电压VR。图三:本案较佳实施例之天线相位中心计算之几何图。图四:本案较佳实施例之场地衰减法配置图。
地址 桃园县龟山乡乐善村文明路二十九巷八号