| 发明名称 |
Chips having elevated sample surfaces |
| 摘要 |
비-샘플 표면인 베이스(22) 및 필라(20(a,b))를 구비하는 샘플 구조(25(a,b))를 포함하는 테스트 장치가 개시되어 있다. |
| 申请公布号 |
KR20020089357(A) |
申请公布日期 |
2002.11.29 |
| 申请号 |
KR20027011000 |
申请日期 |
2002.08.22 |
| 申请人 |
자이오믹스, 인코포레이티드 |
发明人 |
인더물레피에르에프;짜욱프랑크게;바그너페터;녹슈테판 |
| 分类号 |
G01N33/53;B01J19/00;B01L3/00;B01L3/02;B01L99/00;B81B1/00;C40B40/10;C40B60/14;G01N35/04;G01N35/10;G01N37/00 |
主分类号 |
G01N33/53 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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