发明名称 影像扫瞄装置之测试片对焦方法
摘要 一种影像扫描装置之测试片对焦方法,系首先制备一对焦测试片,该对焦测试片包括有一白色基底以及复数条不同宽度之黑色直条图型,各黑色直条图型之方向系相同于光学扫描模组之移行方向,且该对焦测试片系贴附在该影像扫描装置之稿件承载面之扫描起始侧。在进行对焦测试时,以该光学扫描模组对该对焦测试片进行对焦测试,以取得一焦距值,并计算该焦距值是否为最佳焦距值,然后依据该最佳焦距值,调节该光学扫描模组之焦距。于该光学扫描模组对一待扫描稿件进行正式之扫描时,即以该最佳焦距值对该待扫描稿件进行影像扫描。
申请公布号 TW486906 申请公布日期 2002.05.11
申请号 TW089123710 申请日期 2000.11.09
申请人 力捷电脑股份有限公司 发明人 刘荣基
分类号 H04N1/04 主分类号 H04N1/04
代理机构 代理人 陈惠蓉 台北市基隆路二段一六六号五楼
主权项 1.一种影像扫描装置之测试片对焦方法,系以该影像扫描装置之光学扫描模组在执行稿件扫描之前,先对一对焦测试片进行对焦测试,该对焦方法包括下列步骤:a.制备一对焦测试片,该对焦测试片包括有一白色基底以及布列在该白色基底之复数条不同宽度之黑色直条图型;b.以该光学扫描模组读取该对焦测试片之影像资料;c.计算该取得之对焦测试片之焦距値;d.调节该光学扫描模组相对于该对焦测试片之焦距,以得到一最佳焦距値;e.于该光学扫描模组进行正式之扫描时,以该最佳焦距値对该待扫描稿件进行影像扫描。2.如申请专利范围第1项之影像扫描装置之测试片对焦方法,其中该对焦测试片之各黑色直条图型之方向系相同于光学扫描模组之移行方向。3.如申请专利范围第1项之影像扫描装置之测试片对焦方法,其中该对焦测试片系贴附在该影像扫描装置之稿件承载面之扫描起始侧,并面对于该光学扫描模组。4.一种影像扫描装置之测试片对焦方法,系以该影像扫描装置之光学扫描模组在执行稿件扫描之前,先对一对焦测试片进行对焦测试,该对焦方法包括下列步骤:a.制备一对焦测试片,该对焦测试片包括有一白色基底以及布列在该白色基底之复数条不同宽度之黑色直条图型;b.设定所需之扫描解析度;c.选定该扫描解析度所对应之对焦测试片之黑色直条图型;d.以该光学扫描模组读取该选定之对焦测试片之黑色直条图型之影像资料;e.计算该取得之对焦测试片之焦距値;f.调节该光学扫描模组相对于该对焦测试片之焦距,以得到一最佳焦距値;g.于该光学扫描模组进行正式之扫描时,以该最佳焦距値对该待扫描稿件进行影像扫描。5.如申请专利范围第4项之影像扫描装置之测试片对焦方法,其中该对焦测试片之各黑色直条图型之方向系相同于光学扫描模组之移行方向。6.如申请专利范围第4项之影像扫描装置之测试片对焦方法,其中该对焦测试片系贴附在该影像扫描装置之稿件承载面之扫描起始侧,并面对于该光学扫描模组。图式简单说明:图一系显示习用影像扫描装置之立体图;图二系显示图一中习知影像扫描装置之光程示意图;图三系显示传统所使用之对焦测试片之图型示意图;图四系显示本发明所使用之对焦测试片之图型示意图;图五系显示本发明影像扫描装置之光程示意图;图六系显示本发明之实施例控制流程图;图七系显示本发明之第二实施例控制流程图。
地址 新竹市新竹科学园区研发二路一之一号