发明名称 METHOD FOR CORRECTING PHYSICAL ERRORS IN MEASURING MICROSCOPIC OBJECTS
摘要 Ein Verfahren zur Korrektur physikalisch bedingter Fehler bei der Messung eines Objekts umfasst das Erfassen (102) eines Bildes des zu messenden Objekts, das Vermessen (106) des abgebildeten Objekts, das Bestimmen (112) eines Messfehlers aufgrund von Strukturumgebungen des Objekts und die Korrektur (108) des Messergebnisses abhängig von dem Messfehler.
申请公布号 WO0192818(A1) 申请公布日期 2001.12.06
申请号 WO2001EP06200 申请日期 2001.05.31
申请人 PDF SOLUTIONS GMBH;MUETEC AUTOMATISIERTE MIKROSKOPIE UND MESSTECHNIK;HARTMANN, HANS;WAAS, THOMAS;EISENMANN, HANS;BRUECK, HANS-JUERGEN 发明人 HARTMANN, HANS;WAAS, THOMAS;EISENMANN, HANS;BRUECK, HANS-JUERGEN
分类号 G01B11/02;G01B9/04;G01B15/00;G02B21/00;(IPC1-7):G01B9/04 主分类号 G01B11/02
代理机构 代理人
主权项
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