| 摘要 |
<p>Schaltungszelle für Testverfahren mit eingebauter Selbsttestfunktion für modular aufgebaute Schaltungen mit: einer Speichereinheit (2) zum Speichern von Daten, einer kombinatorischen Schaltung (3) zur Datenverarbeitung, einer Speichersteuereinheit (4) zur Steuerung der Speichereinheit (2), wobei die Speichersteuereinheit (4) derart konfigurierbar ist, daß sie in einem Sendebetrieb die Speichereinheit (2) als Testmustergenerator und in einem Empfangsbetrieb als Testmuster-Komprimierungseinrichtung einstellt, und die Speichersteuereinheit (4) ein Synchronisiersignal zur Synchronisation der Speichereinheit (2) in Abhängigkeit von Kommunikationssignalen erzeugt, die die Speichersteuereinheit (4) mit Speichersteuereinheiten von weiteren Schaltungszellen austauscht. Die Synchronisation von einer Sende-Schaltungszelle erfolgt bei diesen Verfahren lokal, so daß kein globales Taktsignal benötigt wird. <IMAGE></p> |
