发明名称 |
METHOD FOR PRODUCING A WAFER SUPPORT, USED, IN PARTICULAR, IN A HIGH-TEMPERATURE CVD REACTOR OR IN A HIGH-TEMPERATURE CVD PROCESS WHICH INVOLVES THE USE OF AGGRESSIVE GASES |
摘要 |
Beschrieben wird ein Verfahren zur Herstellung eines Waferträgers mit einer Beschichtung, nach Reinigen des speziell mechanisch vorgefertigten Waferträgers gekennzeichnet durch Erhitzen des gereinigten Waferträgers auf hohe Temperaturen, Einbringen von Beschichtungskomponenten zum Umwandeln der Waferträgeroberfläche zu einer Schutzschicht oder zur Deposition zugeführter Komponenten zu einer Schutzschicht. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass der erfindungsgemässe Waferträger mit der speziellen Beschichtung für ein System und ein Verfahren zur Hochtemperatur-CVD-Bearbeitung von Wafern unter Verwendung aggressiver Gase derart eingesetzt werden kann, dass neben der reproduzierbaren Abscheibung der gewünschten Schichtfolgen mit sehr guter Gleichmässigkeit der Materialeigenschaft, keine chemische Wechselwirkung mit dem Waferträger auftritt. |
申请公布号 |
WO0067311(A2) |
申请公布日期 |
2000.11.09 |
申请号 |
WO2000DE01312 |
申请日期 |
2000.04.26 |
申请人 |
AIXTRON AG;SCHMITZ, DIETMAR;KAEPPELER, JOHANNES;STRAUCH, GERT;JUERGENSEN, HOLGER;HEUKEN, MICHAEL |
发明人 |
SCHMITZ, DIETMAR;KAEPPELER, JOHANNES;STRAUCH, GERT;JUERGENSEN, HOLGER;HEUKEN, MICHAEL |
分类号 |
C30B25/12;C23C16/34;C23C16/458;H01L21/205;(IPC1-7):H01L21/68 |
主分类号 |
C30B25/12 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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