发明名称 DEVICE HEAT PROTECTION APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER
摘要
申请公布号 KR200171482(Y1) 申请公布日期 2000.03.02
申请号 KR19970013943U 申请日期 1997.06.11
申请人 MIRAE CORPORATION 发明人 KIM, DU-CHUL;PARK, WOO-YUL;SUNG, EUN-HYUNG
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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