DEVICE AND METHOD FOR QUANTITATIVELY DETERMINING THE QUALITY OF COATED SURFACES

摘要

Vorrichtung zur quantifizierten Bestimmung der Qualität beschichteter Oberflächen mit einer ersten optischen Einrichtung mit einer Lichtquelle, deren Licht in einem ersten vorbestimmten Winkel auf eine Messfläche richtbar ist; einer zweiten optischen Einrichtung mit einem lichtempfindlichen Fotosensor, welche in einem zweiten vorbestimmten Winkel zu dieser Messfläche ausgerichtet ist und das von der Messfläche reflektierte Licht aufnimmt; einer Steuereinrichtung, die eine Prozessoreinrichtung aufweist und die zur Steuerung des Messablaufs vorgesehen ist; einer Ausgabeeinrichtung, wobei diese Vorrichtung eine Schichtdicken-Messeinrichtung mit einem Schichtdickensensor enthält, der ein elektrisches Schichtdicken-Ausgangssignal erzeugt, das für die zu bestimmende Schichtdicke repräsentativ ist, um die Schichtdicke der auf dieser Oberfläche aufgebrachten Beschichtungsdicke zu bestimmen und wobei diese Steuereinrichtung durch Auswertung des Schichtdicken-Ausgangssignals einen Schichtdickenwert bestimmt und durch des von der Messfläche reflektierten Lichts eine für diese Messfläche charakteristische optische Kenngrösse bestimmt sowie diese Ausgabeeinrichtung diesen Schichtdickenwert und/oder diese wenigstens eine optische Kenngrösse ausgibt.