发明名称 Kompakte und tragbare Vorrichtung zur Messung des Reflektionskoeffizienten einer mit Mikrowellen bestrahlten Struktur
摘要
申请公布号 DE69419380(D1) 申请公布日期 1999.08.12
申请号 DE19946019380 申请日期 1994.10.24
申请人 AEROSPATIALE SOCIETE NATIONALE INDUSTRIELLE, PARIS, FR 发明人 PIAU, GERARD PASCAL, F-92800 PUTEAUX, FR
分类号 G01N22/00;G01R27/06;(IPC1-7):G01N22/00 主分类号 G01N22/00
代理机构 代理人
主权项
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