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经营范围
发明名称
Dual-band rf test interface circuit
摘要
申请公布号
AU1117399(A)
申请公布日期
1999.05.17
申请号
AU19990011173
申请日期
1998.10.22
申请人
QUALCOMM INCORPORATED
发明人
LAWRENCE W. JOHNSON;JEFFREY L. BARTLETT
分类号
H04B17/00;G01R31/28
主分类号
H04B17/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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